Метрологические разработки для любого производства и научно-исследовательских лабораторий, создание новых метрологических инструментов и/или использование уже имеющихся на производстве приборов и средств. Цель - улучшение контроля производственных процессов и повышение выхода годных продуктов.

В приложении ниже - обзор настоящего состояния и будущего нанометрологии и метрологии критических измерений в полупроводниковой индустрии.