Поиск по сайту
Домашняя
Услуги
Бизнес консалтинг
Консалтинг
Метрология
Оборудование
Процессы
Инструменты
Референс метрология
Сертификация
Публикации
О компании
Новости
Контакты
Наши партнеры
Тренинг
Language
English
Новости
NMI: последние новости
Подписаться на сообщения
Владимир Украинцев в гостях у ТК Россия24
Отправлено
26.04.2011 10:37
пользователем tech@glbnm.com
[ обновлено
26.04.2011 10:58
]
Смотрите интервью Владимира Украинцева телеканалу Россия24
Доклад на 25-й конференции SPIE
Отправлено
05.11.2010 8:38
пользователем tech@glbnm.com
[ обновлено
10.03.2011 7:13
]
Президент NMI Владимир Украинцев представил работу под названием "Challenges of SEM-based critical dimension metrology of interconnect" /
"Проблемы сканирующей электронной микроскопии при измерениях критических размеров элементов интерконнект микросхем"
на 25-й конференции "Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography", которая проводилась в городе Сан Хосе, штат Калифорния с 27 февраля по 3 марта 2011.
Rusnanotech 2010
Отправлено
10.09.2010 7:50
пользователем Неизвестный пользователь
[ обновлено
10.03.2011 7:14
, автор: tech@glbnm.com ]
Команда NMI приняла участие в III Международном форуме по нанотехнологиям
RUSNANOTECH 2010
, который проводился
1-3 ноября
2010 года в Экспоцентре в
1-3 of 3